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厦门阿米控技术有限公司  
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公司新闻
2711P-R*7C
2021-10-09IP属地 火星7

厦门阿米控技术有限公司

联系人:徐亚婷(徐工)

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手机:180-2077-6785微信同号

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厦门阿米控技术有限公司是一家多年专业从事大型进口系统(集散式控制系统、可编程控制器、冗余容错控制系统、机器人系统)备件销售公司。

主营品牌FoxboroTriconOvationMotorolaABBAllen-BradleySchneiderSiemensGE Fanuc,YaskawaWoodward等进口自动化系统备件。

在公司全体员工的努力及广大客户和业界同仁支持之下,公司业务迅速拓展,业务范围遍及全国各地,迅速成为自动化行业的后起之秀,公司以为客户创造价值是我们永远追求的目标为宗旨,本着质量保证,诚信服务,及时到位的做事态度长期以往的服务于每一位新老客户。在此,感谢新老客户的长期支持,因为您的关注我们将更加专注。

(注:图片为公司产品库随机图片,相关产品信息请来电咨询!)

图像特征提取指的是从初始的数字图像数据中挖掘出能够精准、完整且不冗余地描述目标对象的信息。从上述定义中可以看出,基于人工特征工程进行缺陷检测好关键的步骤就是从图像中提取出缺陷的特征信息。

若提取的特征不够精准,那么依赖于该特征做出的判断也必然是不准确的。同时,若提取的特征不够精炼、特征空间维度过大,可能导致后续判别算法的复杂性极高,陷入“维度灾难”。


业内进行表面缺陷检测时常用的图像特征有几何特征、形状特征、颜色特征、纹理特征和灰度特征。


缺陷好基本的特征就是几何特征,一般用缺陷的区域周长、面积大小、位置和缺陷质心等信息来表示。缺陷周长和面积大小分别为缺陷边界及内部的像素点数量,通过统计像素个数即可提取其几何特征。


形状特征指的是其矩形度、细长度、圆形度、致密度、不变矩、偏心率等描述信息。对形状特征的描述主要可以分为基于轮廓形状和基于区域形状两类,区分方法在于形状特征仅从轮廓中提取还是从形状区域中提取。几何特征和形状特征的结合是区分缺陷类型的重要依据。

Ontrak 31-0008-028

OnTrak 33-0008-024

Ontrak 76-0002-007

Ontrak 91-0006-017

OPAL 7030612550000

OPAL EA70316580100

Operation Logic Control D H7201003D

OPTO

Opto 22 001828H

Opto 22 001836L

Opto 22 0AC5Q

Opto 22 480D45-12-NOV120

Opto 22 AC 37

Opto 22 AC28

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Opto 22 AC37

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Opto 22 AD6

Opto 22 AD9T

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Opto 22 AD9T

Opto 22 B4